高精度晶振测试仪性能指标

JC-3195A高精度晶振测试仪
 
特点：1．测量中频1～60MHz石英晶体谐振频率、等效电阻。
2．第四代升级产品，电调谐、新器件，新型测试插座更实用。
3．谐振频率、等效电阻全数显，激励功率可调。精度高，测速快。
4．频率测量精度≤5PPM，可选配更高精度频标。
5．可选配带PPM误差显示和频率分档分选的十三位频率计。
性能指标：
□　测频范围：1～60MHz。
□  电阻测量范围：1～500Ω。
□  激励功率可调范围：1～1200μW。
□  可调负载电容：12～50PF。
□  八位频率显示。
□ 四位PPM显示，频率上下限、200档分档分选。
□ 上下限频率分别设置，超出范围（不合格）时自动声光 警。  

JC-3195A高精度晶振测试仪 详细资料
1． 概述
       深圳创鑫JC-3195A高精度晶振测试仪是用于测量石英晶体串联谐振电阻Rr、串联谐振频率fs、负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL（机内带可调负载电容12.5pF～50pF，且等效电阻和谐振频率直接读数，激励功率可调）。测量插座适合晶体引线宽度3.75~14.50mm。  
2．JC-3195A高精度晶振测试仪 技术参数   
2．1  频率范围： 1 ~ 60 MHz  
  频段划分：      1   1 ~ 2.2 MHz
                           2 2.2 ~ 5 MHz 
                           3 5 ~ 10 MHz  
                           4   10 ~ 20 MHz  
                           5   20 ~ 40 MHz
                           6   40 ~ 60 MHz
 2．2  测量 络的终端电阻：源端 24 Ω；负载端 27 Ω。
 2．3  起振电阻范围：
 1 ~ 10 MHz起振电阻范围为0 ~ 500 Ω；
 10 ~ 60 MHz起振电阻范围为0 ~ 100 Ω。
 2．4  阻值读数范围：
0 ~ 1999.9 Ω  误差±(10+频率MHz为单位时/10)%。
 2．5  激励功率范围： 1.5 ~ 1200μW  误差±25%    
 2．6  负载电容范围： 12.5~50pF
 2．7  频率计测量准确度： 5 PPM。
2．8  频率计数字显示： 8位。
2．9   时基稳定性： 短期：1×10 –7 /秒 长期：2×10 –5 / 月。
[可选配高稳定度的恒温晶振（1~5）×10 –8／日]。
 2．10 JC-3195A高精度晶振测试仪使用环境： a．环境温度：20℃±2℃；
                               b．相对湿度：（45 ~ 75）%；
                               c．大气压强：86 ~ 106 kPa；
                               d．避免外电磁场干扰，避免阳光直射。
 2．11 安全组别：属GB4793《电子测量仪器安全要求》中Ⅱ类安全仪器。
 2．12 使用电源：220 V ± 2 %，50 Hz±1%。
 2．13 连续工作时间：8小时。
 2．14 消耗功率：小于25 W。
 2．15 外形尺寸：380 mm（宽） X150 mm（高） X290 mm（深）。
 2．16 重量： 约7 kg