112Gbps Serdes PAM4相噪测量方案

速率高达112Gbps的Serdes PAM4技术 的相噪测量频率在28GHz。下面是罗德与施瓦茨提供的Serdes PAM4的相噪测量方案。方案核心是R&S 50GHz相噪分析仪FSWP50和提供高精参考时钟的R&S信号源SMA100B。罗德与施瓦茨Serdes PAM4相噪测试方案具有测试速度快，仪表操作简便的特点。方案已被国内多家大型芯片设计公司选用。

R&S相噪分析仪FSWP和信号源SMA100B详细技术亮点如下：

罗德与施瓦茨公司相位噪声分析仪FSWP单表频率覆盖范围高达50GHz,将高性能相位噪声测试仪和频谱分析仪合二为一，使用先进的数字锁相环方法测量相位噪声，提供互相关计算功能，可增加20dB测试动态范围。FSWP基于其自身极低仪表相位噪声和高效的杂散检测算法，适合进行分辨率要求极高, 如Serdes PAM4技术中的时钟源抖动分析。PN和AM同时测试界面如下：

另外，FSWP和SMA100B也可用于Serdes的ADC/DAC验证和测试，详细测试方案和测试项目如下：

罗德与施瓦茨是欧洲最大的测试与测量厂家，测试方案覆盖通信、汽车和芯片测试等领域。在芯片领域致力于用高性能的芯片测试与测量解决方案迎接高速数字化带来的挑战，半导体/芯片测试方案主要包括射频芯片测试、分立器件产线测试和数字芯片研发/生产测试解决方案。 未来，罗德与施瓦茨会推出半导体/芯片测试系列方案，致力于推动中国半导体/芯片产业的发展。