一、低气压试验箱试验的目的：确定元件和材料在低气压下耐电击穿的能力;确定密封元件耐受气压差不破坏的能力;检验低气压对元件工作特性的影响及低气压下的其他效应;有时候可以用于确定机电元件的耐久性。本方法是常温条件下电子元器件的低气压试验。若装置元件的设备将在低温低气压及高温低气压的综合条件下贮存和使用，而且能够断定高低温利气压的综合作用是造成失效的主要原因，常温低气压试验不能使用。
1、预处理：试验样品应在试验的标准大气条件下至少保持20min或按有关标准的规定。
2、初始检测:按有关标准规定，对试验样品进行外观检查、电性能和机械性能检测。
应按以下步骤进行试验:
a)对试验 期间不要求检测性能的试验样品，应在不包装、不通电和“准备使用”状态按其正常工作位置放入处于试验的标准大气条件的试验箱内;对于试验期间要求检测性能的试验样品，应按好电负载及其他测试仪表。并且进行检查，以确定试验样品是否具有有关标准规定的性能。然后，按有关标准规定的时间接通或关闭电源。
b)若无其他规定， 以不大于10kPa/min的降压速率将试验箱内气压降到有关标准规定的值。
c) 在此气压下保持有关标准规定的时间。
d) 若需要，按有关标准的规定进行中间检测。
e)若无其他规定， 以不大于10kPa/min的升压速率使试验箱内气压恢复到正常值。
4恢复：若无其他规定，试验样品应在试验的标准大气条件下保持1h~2h。
5、低气压试验箱最后检测：按有关标准的规定，对试验样品进行外观检查、电性能和机械性能检测。
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