联系我，了解更多信息
随着大规模集成电路向超大规模集成电路进发，元件的尺寸不断缩小，解决了微小尺寸元件的制造与生产，下一步便是如何去检测其性能指标是否达到标准，于是，对微型器件的振动分析与测试是目前研究的的热点问题之一。随着现代工业和现代科学技术的发展，对各种仪器设备提出了低振级和低噪声的要求，以及对主要生产过程或重要设备进行监测、诊断，对工作环境进行控制等等。
测试环境将能够正常工作的主板放到光学平台上，用测试工装将其固定不动。选取合适放大倍数的物镜，通过显微镜目镜或者上位机软件成像，观察成像情况，通过载物台调整旋钮将被测物成像达到最佳状态。此时将光束的光斑垂直打在被测元件上，再使用手动或者自动的方式将其聚焦。测试主板工作与不工作情况下的振动位移，记录分析，通过和环境底噪的数据对比，进而找寻到振动的异常频率段进行分析。
舜宇显微激光测振仪
舜宇显微激光测振仪
测试数据主板未工作情况下的位移数据。如下图所示。上侧数据为时域数据，下侧为频域数据。
舜宇显微激光测振仪
主板工作情况下与未工作情况下的位移数据对比。如下图所示，上侧为主板未工作情况下的时域数据和频域数据，下侧为主板工作情况下的时域数据和频域数据。
舜宇显微激光测振仪
将两者的频域数据进行整合，如下图示，其中蓝色的为主板未工作情况下的频域位移数据，黄色的为主板工作情况下的频域位移数据。工作情况下的峰值频率为9398.8Hz，位移为0.012nm。
舜宇显微激光测振仪
在主板处于关机状态时，在0hz—10khz频率范围内，其位移波形（蓝色部分）在一个动态平衡的频带范围内波动，这个是周围环境以及测试设备所引起的的噪声干扰，此时并没有特别凸起的现象，说明电子元器件没有振动；在主板处于开机状态时，在9khz附近有明显的的波形凸起现象，此时测得的振动参数已经将周围的环境干扰因素给覆盖了，这是由于电子元器件电气特性等所引起的强烈振动。因此，当频率达到9khz时，该元器件产生将会产生较为剧烈的振动。该振动对电子设备的影响是多方面，一般振动引起的是元器件或材料的疲劳损坏。
邀您相约，与我们交流沟通，合作共赢！
声明：本站部分文章内容及图片转载于互联 、内容不代表本站观点，如有内容涉及侵权，请您立即联系本站处理，非常感谢！