低气压试验箱GB/T4937.2-2006《半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分 低气压》本部分适用于半导体器件的低气压试验。本项试验的目的是测定元器件和材料避免电击穿失效的能力，而这种失效是由于气压减小时，空气和其他绝缘材料的绝缘强度减弱所造成的。本项试验仅适用于工作电压超过1000V的器件。
低气压试验箱GB/T4937.2-2006本项试验适用于所有的半导体器件。本试验仅适用于军事和空间领域。
本项低气压试验方法和IEC60068-2-13大体上一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，使用本部分条款。
声明：本站部分文章内容及图片转载于互联 、内容不代表本站观点，如有内容涉及侵权，请您立即联系本站处理，非常感谢！