爱思达TDR特性阻抗测试仪是国内*套自主研发的特性阻抗智能测试系统，具有完全的自主知识产权，用于线路板特性阻抗快速在线测试，和传统TDR取样示波器相比，增加了针对线路板、电缆行业的标准化、自动化测试和分析软件，是一种面向工业流水化生产线的智能测试仪器。
该仪器基于时域反射法及取样示波器原理设计，遵循IPC、Intel等国际规范要求，能够批量化、自动化、快速、准确测试被测件的特性阻抗，并提供测试图形分析、统计数据分析、SPC分析、自动记录测试数据、自动出具检测 告及打印等功能。适用于刚性/挠性PCB、FFC、高速背板、高频电缆、高频线材、覆铜板的研发、设计、生产及品管单位，此外仪器扩展功能还能够测量损耗、衰减、介电常数、传输延时、差分延时等高频参数，为高频互连器件高频参数测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。
该产品测试速度小于1秒/次，单端阻抗50欧姆测试精度为±1%，差分100欧姆为±2%，入射脉冲上升时间小于60ps，TDR带宽为3GHz，*小采样间隔10ps，等效采样率100GS/s，*小分辨距离为1.5cm，*大存储深度5000点。相关技术指标居国内***，达到国际先进水平，已在全国珠三角、长三角等地近百家客户得到广泛应用，并已成功进入国际市场，赢得了市场的高度认可。
TDR特性阻抗测试仪技术参数
| 测试参数 | 参数指标 | |
| 1. | 控制阻抗测量范围 | 单端10～150Ω（可扩展至250Ω） 差分20～300Ω（可扩展至360Ω） |
| 2. | 测量精度 | 单端50Ω±1%，差分100Ω±3% （可溯源到28、50、75、100Ω美国NIST标准） |
| 3. | 测量长度 | *大2m *小0.04m（使用匹配探针）， 0.07m（使用非匹配探针） |
| 4. | 水平显示分辨率 | 0.2mm（0.008”） |
| 5. | 垂直显示分辨率 | 0.03Ω |
| 6. | 测试方法 | 时域反射法（TDR） |
| 7. | 特性阻抗校准技术 | 时域两点快速校准 时域多点高精度校准 |
| 8. | TDR带宽 | ≥3GHz |
| 9. | 入射脉冲带宽 | ≥6GHz |
| 10. | 入射脉冲上升时间 | ≤60ps |
| 11. | 反射阶跃脉冲上升时间 | ≤120ps |
| 12. | 等效采样率 | 100GS/s |
| 13. | TDR取样速率 | 100kHz |
| 14. | TDR水平采样分辨率 | 10ps |
| 15. | TDR垂直采样分辨率 | 14Bit |
| 16. | TDR*大采样点数 | 5000 |
| 17. | 测量速度 | 单端：<0.6s 差分：<1s |
| 18. | 开机时间 | 10s |
| 19. | 热机时间 | 10min |
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