适用于时代涂镀层测厚仪的各种校准方法
覆盖层 基体 |
有机材料等非磁性覆盖层(如漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | 非磁性的有色金属的覆层 (如铬、锌、铝、铜、锡、银等) |
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覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | 覆盖层厚度不超过100μm | 覆盖层厚度超过100μm | ||
如铁、钢等磁性金属 | 被测面积的直径大于30mm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm |
F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm |
F1型测头0-1250μm F10型测头0-10mm |
被测面积的直径小于30mm | F400型测头0-400μm | F1型测头0-1250μm F400型测头0-400μm |
F400型测头0-400μm | F400型测头0-400μm F1型测头0-1250μm |
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如铜、黄铜、铝、锌、锡等有色金属 | 被测面积的直径大于5mm | N1型测头0-1250μm | N1型测头只能测铜上镀铬0-40μm | ||
塑料、印刷线路板等非金属基体 | 被测面积的直径小于7mm | – | – | CN02型测头10-200μm (主要用途测铜箔厚度) |
根据不同测头类型,涂镀层测厚仪的校准方法主要分为零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准、铜上镀铬校准、CN02测头校准等。
一、适用于时代涂镀层测厚仪的校准方法——零点校准
涂镀层测厚仪零点校准适用于除 CN02 外的所有的测头。以TIME2601涂镀层测厚仪为列,校准方法如下:
①在基体上进行一次测量,屏幕显示<×.×m>。
②按 ZERO 键,屏显。校准已完成,可以开始测量了。
③重复上述两个步骤可获得更为精确的零点,高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
二、适用于时代涂镀层测厚仪的校准方法——二点校准
涂镀层测厚仪二点校准主要分为一试片法和二试片法 :
(1)一试片法适用于除CN02外的所有测头。这一校准法尤其适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。校准方法如下:
①先校零点(如上述)。
②在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示<× ××m>。
③用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。
(2)二试片法适用于除CN02外的所有测头。两个标准片厚度***相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。校准方法如下:
①先校零值。
②在较薄的标准片上进行一次测量,用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。
③紧接着在厚的一个样片上进行一次测量,用↑、↓键修正读数,使其达到标准 值。校准已完成,可以开始测量了。
三、适用于时代涂镀层测厚仪的校准方法——喷沙表面校准
喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值,其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定。校准方法如下:
(1)方法一:
①仪器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
②在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量 10 次左右,得到平均值 Mo。
③然后,在已涂覆的表面上测量 10 次得到平均值 Mm。
④(Mm—Mo)±S 即是覆盖层厚度。 其中 S(标准偏差)是 SMm 和 SMo 中较大的一个。
(2)方法二:
①用直接方式下的单次测量法测量。
②先用两试片法校准仪器。
③试样上测量 5~10 次。按 STATS 键,统计值中的平均值即是覆层厚度。
四、适用于时代涂镀层测厚仪的校准方法——铜上镀铬层的校准方法:
铜上镀铬层的校准方法适用于 N1 测头,并使用特殊的校准标准片。(去掉 N400、N1/90°) ⊙必须使用一试片法。 ⊙使用标有“铜上镀铬” (CHROME ON COPPER) 字样的特殊标准片。
五、适用于时代涂镀层测厚仪的校准方法——CN02头的校准方法
CN02是一种平展的测头,仅适用于测量平滑表面的铜板或铜箔的厚度。校准方法如下:
①开机后,将 CN02 测头平稳地放在随机配带的 5.0mm 铜块上,按 ZERO 键,屏幕显示“OO”;
②在标准片上进行一次测量;
③用↑、↓键修正读数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量。
④测量双面覆铜板需用双面敷铜标准片校准。
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