应变扭矩测量仪的应变测量
应变的测量是利用应变片的应变效应，达到非电耸电测法的目的。对于电阻应变片，其机理是单位应变会引起电阻相对变化。半导体应变片是基于半导体材料的电阻率随作用应力而变化的所谓“压阻效应”。
设有一根长度为L、截面积为S、电阻率为P的金属丝，其起始电阻为R，则有R=P*L/S
如果导线在轴向应力作用下，长度L变化dL，截面积S变化dS，电阻率变化dp，因此，电阻R也将变化dR。将上式微分.可得
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