1、X荧光光谱仪原理
当x射线管产生的x光照射样品时，样品中所含元素受到激发，产生新的荧光x射线。每种元素都具有特征波长的荧光
x射线，且特征波长x射线的强度与元素含量成正比，在每种元素的特征荧光x射线波长的位置上，测定x射线荧光强度，
即可进行定性和定量分析。
2、X荧光光谱仪构造
x射线发生部分有x射线管、高压变压器、冷却水装置、控制系统。分光系统有送样器分光室真空系统单色仪。测量系统有检测器、前置放大器、高压板、通道板、控制系统。计算机数据处理系统。
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