单片硅钢片铁损测试仪说明书

将绕有激磁线圈和磁束检出线U型磁铁置于被测试样上即开成闭合磁路。如果该U型磁铁的磁路断面 面积比试片内磁路断面面积大许多时，则激磁线圈加电压时所产生的激磁电流与磁通检出线圈上产生的电 压乘积即为试片内之损耗。本测定器备有试片厚度和测定用磁能密度选择开关，选择、设定后，试片的铁 损值便可立即读出。铁损值可由此式得知：铁损=试片内损耗/试片内磁路部分的有效重量。
试片内磁路部分的有效重量为试片厚度、试片内磁路面积与试片密度的算术乘积。而本装置的内置磁 路宽度与长度已固定，只需设定板厚与磁通密度即可测定铁损。

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