四探针方电阻率测试仪运用领域

四探针方电阻率测试仪运用领域
四探针电阻率测试仪常用于半导体行业，这种实验方法在国外备受青睐，在我国也成为一种测试趋势。它具有测试快速、简单操作，准确度高的特点，*主要这种方法不用校准，不需要测试人员耗费大量的时间和精力去论证测试的准确性。
四探针方电阻率测试仪运用领域
规格型号 FT-341
1.方块电阻 10^-5～2×10^5Ω/□
2.电阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm
3.测试电流 0.1μA.1μA.10μA，100A，1mA，10mA，100mA
4.电流精度 ±0.1%
5.电阻精度 ≤0.3%
6.显示读数 屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式 双电测量
8.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W
9.误差 ≤3%（标准样片结果）
10.选购功能 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.
11.测试探头 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
12.标准电阻（选购） 规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
 
双电组合测试方法：
利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，适用于斜置式四探针对于微区的测试。
适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，